роботы
робототехника
микроконтроллеры
Главная
Новости
Спорт
Шаг за шагом
Статьи
Wiki
Форум
Downloads
Ссылки
Контакты
 


 Страниц (1): [1]   

> Опрос
Как создать схему?
Для голосования и просмотра результатов опроса войдите или зарегистрируйтесь

> Без описания
Di-man
Отправлено: 15 Мая, 2016 - 19:05:02
Post Id


Рядовой


Сообщений всего: 2
Дата рег-ции: Май 2016  





Помогите пожалуйста.
Прочитал кучу информации по JTAG и походу запутался,каша в голове.

Суть такая , есть ПЛАТА АЦП на ней установлена ПЛИС XC6SLX100T-3FGG484I с интерфейсом JTAG (больше нет элементов поддерживающие периферийное сканирование) , естественно есть вход JTAG.

В общем случаи нужно протестировать эту плату АЦП, как то сделать? (кластерное сканирование)

(Создать отдельную плату с интерфейсом JTAG?

Какие элементы на отладочной плате необходимы? ( возможно микроконтроллер, если да, то какой?)
и достаточно ли будет микроконтроллер на плате. Какие еще элементы использовать ( МК плюс разъем JTAG достаточно? )
Если можно принципиальную схему.)
по итогам требуется составить структурную схему проверки платы АЦП с помощью периферийного сканирования и выполнить тестирование кластеров (на кз, и повреждение дорожек)
(и нужно ли использовать LVDS передатчик/приемник что бы это выполнить?( что бы передать количество диф.сигналов ) )

Спасибо.
 
 Top
Predator
Отправлено: 19 Мая, 2016 - 14:03:49
Post Id


Гуру


Сообщений всего: 1039
Дата рег-ции: Июль 2012  





это практическая задача или теоретическая?
В первом случае обязательно JTAG? какую информацию нужно выдать по результатам?

Может достаточно чипскопом просмотреть сигнал с АЦП (и возможно других элементов)...
Если это единственная плата (небольшая партия), то самым надежным способом будет реализовать в ней тестовый обмен информацией ПЛИСины с перефирией (памятью, АЦП...). И вы никак не узнаете КЗ это между дорожками или ногу соседней микросхемы прошибло, если эта соседняя микросхема не поддерживает переферийного сканирования.
 
 Top
Ленинград 1980
Отправлено: 04 Июля, 2017 - 12:33:31
Post Id


Рядовой


Сообщений всего: 1
Дата рег-ции: Июль 2017  





Вариантов тут много.
Есть АЦП, у которых есть тестовые режимы. То есть там подаешь что-то на какой-нить пин, и она тебе в ответ выдает какую-нибудь шахматку. Тогда, в противовес ответившему вам, реально возможна диагностика. Сам АЦП не должен поддерживать периферийное сканирование, тестирование производится за счет соседнего компонента с JTAG. Ну и понятно, что выводы АЦП должны быть подключены к JTAG-компоненту, особенно пины, включающие какие-нибудь тестовые режимы.
Можно закольцевать АЦП на ЦАП, если ЦАП есть на плате.
Можно использовать на входе генератор аналогового сигнала, выставлять тестовые напряжения, а цифровой выход ловить JTAG-компонентом с помощью периферийного сканирования. Причем этот процесс сейчас можно автоматизировать в рамках одной тестовой программы.
Можно использовать тестер периферийного сканирования, у которого помимо JTAG-интерфейсов, есть тестовые каналы для аналоговых измерений/стимуляций. В этом случае будет использоваться один программно-аппаратный комплекс.
 
 Top
Страниц (1): [1]
« Микроконтроллеры »


Все гости форума могут просматривать этот раздел.
Только зарегистрированные пользователи могут создавать новые темы в этом разделе.
Только зарегистрированные пользователи могут отвечать на сообщения в этом разделе.
 





Powered by Exclusive Bulletin Board
ExBB FM 1.0 RC1 Smiles by Fool from Foolstown