Периферийное(граничное) сканирование (JTAG)

Форум myROBOT.ru » Лаборатория » Микроконтроллеры (Модераторы: Белый Волк, VCOM, darkblue, ОЛЕГ, nest)

Страниц (1): [1]

Без описания

Поиск в теме | Версия для печати

Di-man	Отправлено: 15 Мая, 2016 - 19:05:02
Рядовой Сообщений всего: 2 Дата рег-ции: Май 2016	Помогите пожалуйста. Прочитал кучу информации по JTAG и походу запутался,каша в голове. Суть такая , есть ПЛАТА АЦП на ней установлена ПЛИС XC6SLX100T-3FGG484I с интерфейсом JTAG (больше нет элементов поддерживающие периферийное сканирование) , естественно есть вход JTAG. В общем случаи нужно протестировать эту плату АЦП, как то сделать? (кластерное сканирование) (Создать отдельную плату с интерфейсом JTAG? Какие элементы на отладочной плате необходимы? ( возможно микроконтроллер, если да, то какой?) и достаточно ли будет микроконтроллер на плате. Какие еще элементы использовать ( МК плюс разъем JTAG достаточно? ) Если можно принципиальную схему.) по итогам требуется составить структурную схему проверки платы АЦП с помощью периферийного сканирования и выполнить тестирование кластеров (на кз, и повреждение дорожек) (и нужно ли использовать LVDS передатчик/приемник что бы это выполнить?( что бы передать количество диф.сигналов ) ) Спасибо.

Predator	Отправлено: 19 Мая, 2016 - 14:03:49
Супермодератор Сообщений всего: 1307 Дата рег-ции: Июль 2012	это практическая задача или теоретическая? В первом случае обязательно JTAG? какую информацию нужно выдать по результатам? Может достаточно чипскопом просмотреть сигнал с АЦП (и возможно других элементов)... Если это единственная плата (небольшая партия), то самым надежным способом будет реализовать в ней тестовый обмен информацией ПЛИСины с перефирией (памятью, АЦП...). И вы никак не узнаете КЗ это между дорожками или ногу соседней микросхемы прошибло, если эта соседняя микросхема не поддерживает переферийного сканирования.

Ленинград 1980	Отправлено: 04 Июля, 2017 - 12:33:31
Рядовой Сообщений всего: 1 Дата рег-ции: Июль 2017	Вариантов тут много. Есть АЦП, у которых есть тестовые режимы. То есть там подаешь что-то на какой-нить пин, и она тебе в ответ выдает какую-нибудь шахматку. Тогда, в противовес ответившему вам, реально возможна диагностика. Сам АЦП не должен поддерживать периферийное сканирование, тестирование производится за счет соседнего компонента с JTAG. Ну и понятно, что выводы АЦП должны быть подключены к JTAG-компоненту, особенно пины, включающие какие-нибудь тестовые режимы. Можно закольцевать АЦП на ЦАП, если ЦАП есть на плате. Можно использовать на входе генератор аналогового сигнала, выставлять тестовые напряжения, а цифровой выход ловить JTAG-компонентом с помощью периферийного сканирования. Причем этот процесс сейчас можно автоматизировать в рамках одной тестовой программы. Можно использовать тестер периферийного сканирования, у которого помимо JTAG-интерфейсов, есть тестовые каналы для аналоговых измерений/стимуляций. В этом случае будет использоваться один программно-аппаратный комплекс.

Поиск в теме | Версия для печати

Страниц (1): [1]

« Микроконтроллеры »

Все гости форума могут просматривать этот раздел.
Только зарегистрированные пользователи могут создавать новые темы в этом разделе.
Только зарегистрированные пользователи могут отвечать на сообщения в этом разделе.

Smiles by Fool